Die hergestellten Schichten und Schichtstapel charakterisieren Sie mithilfe verschiedener Messtechniken (Elektronenmikroskopie, Ellipsometrie, Röntgendiffraktion, Rasterkraftmikroskopie, Interferometrie, etc.) sowie an selbst zu konzeptionierenden, an die Zielanwendung angepassten Messplätzen in unseren eigenen Wafer-Test-, Optik- und Biolaboren. Sie können für Ihre praktischen Arbeiten auf sämtlichen institutseigenen Reinräumen und Labore zugreifen.
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